http://dspace.bsu.edu.ru/handle/123456789/60355| Название: | Детектирование дефектов пленок SiO₂ холестерическими жидкими кристаллами |
| Авторы: | Кучеев, С. И. Омельченко, Е. И. Ченцова, В. В. |
| Ключевые слова: | физика физика твердого тела кристаллография холестерические жидкие кристаллы диэлектрические пленки дефект пленки оксид кремния электрооптический эффект |
| Дата публикации: | 2017 |
| Библиографическое описание: | Кучеев, С.И. Детектирование дефектов пленок SiO₂ холестерическими жидкими кристаллами / С.И. Кучеев, Е.И. Омельченко, В.В. Ченцова ; НИУ БелГУ // Научные ведомости БелГУ. Сер. Математика. Физика. - 2017. - №13(262), вып.47.-С. 92-98. - Библиогр.: с. 98. |
| Краткий осмотр (реферат): | Рассмотрена возможность регистрации дефектов пленки окиси кремния на кремнии с помощью нескольких электрооптических эффектов, присущих холестерическому жидкому кристаллу |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://dspace.bsu.edu.ru/handle/123456789/60355 |
| Располагается в коллекциях: | № 13 (262), вып. 47 |
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Kucheev_Detektirovanie_17.pdf | 215.41 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.