| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Кучеев, С. И. | - |
| dc.contributor.author | Омельченко, Е. И. | - |
| dc.contributor.author | Ченцова, В. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2024-02-14T11:27:14Z | - |
| dc.date.available | 2024-02-14T11:27:14Z | - |
| dc.date.issued | 2017 | - |
| dc.identifier.citation | Кучеев, С.И. Детектирование дефектов пленок SiO₂ холестерическими жидкими кристаллами / С.И. Кучеев, Е.И. Омельченко, В.В. Ченцова ; НИУ БелГУ // Научные ведомости БелГУ. Сер. Математика. Физика. - 2017. - №13(262), вып.47.-С. 92-98. - Библиогр.: с. 98. | ru |
| dc.identifier.uri | http://dspace.bsu.edu.ru/handle/123456789/60355 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрена возможность регистрации дефектов пленки окиси кремния на кремнии с помощью нескольких электрооптических эффектов, присущих холестерическому жидкому кристаллу | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.subject | физика | ru |
| dc.subject | физика твердого тела | ru |
| dc.subject | кристаллография | ru |
| dc.subject | холестерические жидкие кристаллы | ru |
| dc.subject | диэлектрические пленки | ru |
| dc.subject | дефект пленки | ru |
| dc.subject | оксид кремния | ru |
| dc.subject | электрооптический эффект | ru |
| dc.title | Детектирование дефектов пленок SiO₂ холестерическими жидкими кристаллами | ru |
| dc.type | Article | ru |
| Appears in Collections: | № 13 (262), вып. 47
|
